上海上分紫外可見分光光度計UV765CRT

產品簡介：

UV765系列紫外-可見分光光度計可以滿足日常分析到科學研究等廣泛的應用需求。儀器采用[Cutting-edge合理的光路系統、低噪聲的電路設計，具有出色的可靠性和穩定性。

產品特點：

● 比例雙光束，保證極好的穩定性。

● 超低的雜散光，[excellent的波長[accurate度。

● 高清晰度大屏幕LCD顯示，流暢的人機對話操作。

● 長壽命石英涂膜光學部件。

● 常規測量功能：光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。

● 顯示和儲存各種數據和圖譜，支持專用打印機。

● 自動校正功能，確保每次測量數據[accuracy]。

● 自動尋找燈源理想中位置，獨立燈室，燈源更換簡單方便。

● 大樣品室，自動8聯樣品架。

● 自診斷功能，隨時檢查儀器狀態和性能。

● 波長范圍：190nm～1100nm

● 波長髙至允許誤差：±0.5nm

● 波長重復性：≤0.2nm

● 光譜帶寬：2nm

● 雜散光：≤0.05%（τ）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）

● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）

● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～3.00(A)

● 透射比髙至允許誤差：±0.3%（τ）

● 漂移：≤0.001A/h

● 透射比重復性：0.15%（T）

● 基線平直度：±0.002A

● 噪聲：100%噪聲≤0.15%（T） 0%噪聲≤0.10%(T)

● 掃描速度；快、中、慢